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簡要描述:上海欣茂大平片光譜測試儀手機(jī)屏薄膜反射儀特點(diǎn)和功能1、采用*的光、機(jī)、電、微計算機(jī)模快化設(shè)計,具有超群的性能和性價比,使操作更為簡便。2、配置高性能“全息光柵"的低雜散光高分辨率的單色器,具有出眾的光學(xué)精度及測量準(zhǔn)確性。3、儀器具有良好的穩(wěn)定性、重現(xiàn)性。4、*的自動調(diào)校0%T和100%T等控制功能。5、具有定波長測試、雙波長測試(550nm、850nm)及多波長測試和光譜掃描等功能。
名 稱:大平片光譜測試儀
型 號:
品 牌:上海欣茂
大平片光譜測試儀(手機(jī)屏IR 孔測量等)主要技術(shù)指標(biāo):
波長范圍: 325nm~1100nm
波長精度: ±1nm
波長重復(fù)性: ≤0.5nm
光譜帶寬: 1.6nm(最小測量直徑Φ0.5mm)
2.7nm(最小測量直徑Φ0.7mm)
5.0nm(最小測量直徑Φ1.1mm)
6.6nm(最小測量直徑Φ1.4mm)
測量范圍 0-125%T, -0.097-2.700A, 0-1999C
透射比準(zhǔn)確度: ±0.5%(τ)
透射比重復(fù)性: ≤0.2%(τ)
基線直線性: ±0.004A
雜散光: ≤0.3%T(340、420nm)
最 大 可 測 片: 300mm x 400mm
工作電壓: AC 100V~240V 50Hz/60Hz